分辨率測試卡 JIMA RT CT-01

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分辨率測試卡 JIMA RT CT-01

采用最先進的半導體工藝技術，開發了一種新的CT分辨率圖用金(Au)吸收材料為5種不同尺寸的線和空間，從3微米到7微米。這是檢查微聚焦x射線CT掃描系統性能的非常有用的工具，也可用于校準，設置，維護，日常校準等。

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概述

采用最先進的半導體工藝技術，開發了一種新的CT分辨率圖用金(Au)吸收材料為5種不同尺寸的線和空間，從3微米到7微米。這是檢查微聚焦x射線CT掃描系統性能的非常有用的工具，也可用于校準，設置，維護，日常校準等。

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