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    • 分辨率測試卡JIMA RT RC-04
    采用最先進的半導體技術，有23種線和空間組成 實現了10 μm到0.1 μm的納米量級。最先進的x射線成像 具有納米焦點和微焦點分辨率的系統需要MicroChart來維護和控制 檢查它的能力和日常校準。
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    采用最先進的半導體技術，有23種線和空間組成實現了10 μm到0.1 μm的納米量級。最先進的x射線成像具有納米焦點和微焦點分辨率的系統需要MicroChart來維護和控制檢查它的能力和日常校準。


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